TEM

The Philips CM 120  Transmission Electron Microscope equipped with single-tile holder and a double-tilt low-background holder

 

tem

 

 

Features:

The Philips CM120 TEM has a Lanthanum Hexaboride (LaB6) gun,

With compucentric motorized stage, is designed for analysis of the physical and chemical microstructure at high spatial resolution.

In addition to high resolution imaging capability, the machine is optimized for analytical electron microscopy under normal conditions.

Spatially resolved compositional analysis by X-ray emission spectroscopy (Z > 5), convergent beam electron diffraction for three-dimensional structure information are some of the techniques available on this instrument.

In addition, a slow scan high resolution CCD camera is available.

Specifications:

Acceleration voltage 120 kV

Line resolution 0.2 nm

Point resolution 0.34 nm

Detectors: CCD TV 1500×1300 pixels, EDAX, Digital x-ray line profile option up to 16 elements

 

A cosa serve

 Il microscopio elettronico a trasmissione (TEM) è simile al SEM, in quanto entrambi impiegano un fascio di elettroni diretto sul campione. Questo significa che molte componenti come il cannone elettronico, le lenti condensatrici e il sistema di vuoto sono simili in entrambi gli strumenti. Tuttavia, i metodi con i quali queste immagini vengono prodotte ed ingrandite sono completamente differenti; mentre il SEM è principalmente utilizzato per lo studio delle superfici, il TEM fornisce informazioni circa la struttura interna del campione analizzato.
Il fascio elettronico è prodotto nel TEM, come nel SEM, da un cristallo di esaboruro di lantanio (il nostro TEM), situato nella parte alta della colonna sotto vuoto; tale fascio viene accelerato verso il basso della colonna tramite alto voltaggio (40¸120 kV). Anche qui il fascio elettronico è condensato da lenti elettromagnetiche per attraversare una sezione del campione opportunamente assottigliata (100 nm). Lo spessore del campione deve essere sufficientemente sottile in modo da consentire che alcuni degli elettroni incidenti siano in grado di attraversarlo; durante tale attraversamento molti elettroni sono assorbiti ed altri, in corrispondenza a disuniformità di arrangiamento atomico del cristallo, sono deviati irregolarmente. Dopo che il fascio ha attraversato il campione, viene focalizzato da una lente “obiettivo” e quindi allargato e proiettato su uno schermo fluorescente. Le zone dello schermo che appaiono scure sono dovute appunto ad un’irregolare deviazione degli elettroni da parte delle dislocazioni della struttura cristallina del campione .

Prestazioni

La prestazione che richiede l’impiego di tale strumento può essere inquadrata sia a giornata lavorativa (ossia il lavoro eseguibile nell’arco delle 8 ore lavorative)  comprensiva di operatore tecnico specializzato, sia in base alla particolare prestazione ossia:

Osservazioni in campo chiaro e scuro:

  • Osservazione con acquisizione digitale di 1 campo di interesse fino a max ingrandimento 175.000X e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8, 256 livelli di grigio
  • Osservazione con acquisizione digitale di 1 campo di interesse fino al massimo ingrandimento significativo (max 660.000X) e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8, 256 livelli di grigio

Osservazione in diffrazione elettronica

  • Individuazione puntuale cristallografica e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8
  • Individuazione puntuale cristallografica di almeno due assi di zona con individuazione e misura dei parametri di cella e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8

Analisi compositiva con nano sonda

  • Esecuzione di una analisi qualitativa in un punto: individuazione degli elementi presenti, stampa a colori dello spettro; registrazione su file dei dati e se richiesto anche dello spettro
  • Esecuzione di una analisi qualitativa su una linea con l’individuazione dei profili di concentrazione per 4 elementi contemporaneamente, stampa a colori dei profili sovrimposti alla zona analizzata; registrazione su file dei dati e se richiesto anche dell’immagine

 

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