contatti con le industrie

Aziende e industrie possono ottenere dal LIME le seguenti prestazioni con e senza certificazione:

(ad integrazione delle seguenti, altre prestazioni fornite dal gruppo STM-DIMI sono visualizzabili al seguente link)

 

Strumenti (normativa)

 PREPARATIVA METALLOGRAFICA CLASSICA (norma ASTM E3) 

  • Taglio
  • Inglobamento
  • Assottigliamento e lucidatura manuale ed automatica
  • Attacco chimico metallografico in soluzione o elettrolitico
  • Rivestimento conduttivo tramite Sputter Coater per l’osservazione al SEM di campioni non conduttivi (oro o grafite)

PREPARATIVA METALLOGRAFICA AVANZATA 

  • Realizzazione lamella TEM tramite Focused Ion Beam
  • Assottigliamento e lucidatura tramite Tripod
  • Assottigliamento chimico in bagno elettrolitico con o senza criostato (secondo normativa ASTM E1558)
  • Assottigliamento a conca fino a circa 5 µm di spessore tramite Dimpling Grinder
  • Trasparenza elettronica tramite Electropolisher con e senza criostato

ANALISI IN MICROSCOPIA OTTICA 

  • Osservazione in riflessione ed in trasmissione fino a 1.000x con possibilità di impiegare filtri speciali (DIC, polarizzatore, contrasto di fase, ecc.)

ANALISI IN MICROSCOPIA ELETTRONICA A SCANSIONE (SEM)

  • Osservazione tramite rivelatore di elettroni secondari, retrodiffusi, catodoluminescenza e correnti indotte
  • Metrologia elementare secondo normativa ASTM B748

ANALISI COMPOSITIVA rX (via SEM) 

  • Analisi qualitative puntuali e di area per l’individuazione degli elementi presenti
  • Analisi qualitative di linea con l’individuazione dei profili di concentrazione
  •  Mappe elementali della distribuzione di concentrazione degli elementi
  • Analisi semi-quantitative standardless con calibrazione interna
  • Analisi quantitative con calibrazione da campioni standard

ANALISI IN MICROSCOPIA A SCANSIONE FEG E IONICA A FASCIO FOCALIZZATO (FIB)

  • Osservazione tramite rivelatore SE o BSE e tramite rivelatori speciali (CDEM-SI, correnti indotte) fino ad ingrandimenti 1.000.000x
  • Metrologia elementare secondo normativa ASTM B748
  • Realizzazione di cross section su camponi conduttivi e non conduttivi, analisi di spessore film nanometrici
  • Analisi degli stress residui di rivestimenti nanostrutturati e microsistemi (MEMS), tramite tecnica (FIB-DIC)
  • Realizzazione di pattern utilizzando i modelli predefiniti dello strumento o tramite script personalizzati

ANALISI COMPOSITIVA rX (via FEG)

  • Analisi qualitative puntuali e di area per l’individuazione degli elementi presenti
  • Analisi qualitative di linea con l’individuazione dei profili di concentrazione
  •  Mappe elementali della distribuzione di concentrazione degli elementi
  • Analisi semi-quantitative standardless con calibrazione interna
  • Analisi quantitative con calibrazione da campioni standard

ANALISI IN MICROSCOPIA ELETTRONICA A TRASMISSIONE (TEM)

  • Osservazione in campo chiaro e scuro con ingrandimenti fino a 660.000x
  • Osservazione in diffrazione elettronica (SADP) per analisi cristallografiche

ANALISI COMPOSITIVA rX (via TEM) 

  • Analisi qualitative puntuali tramite NanoProbe e portacampioni low noise per l’individuazione degli elementi presenti
  • Analisi qualitative su una linea con l’individuazione dei profili di concentrazione degli elementi

ANALISI IN MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA 

  • Esecuzione di immagini in 2D e 3D in modalità contact o tapping con area di scansione massima di 100×100µm fino a scale submicrometriche (minori di 5×5 µm) e una altezza massima (Z) di 5µm.
  • Segnali acquisibili: height (topografia), lateral force, phase, magnetic, ecc.
  • Misura di rugosità (Ra) complessiva e intradifetti
  • Ricostruzione tridimensionale di microindentazioni Vickers e Knoop

ELABORAZIONE DATI 

  • Elaborazione delle immagini per evidenziare particolari caratteristiche morfologiche (ottimizzazione dei parametri di contrasto/luminosità locale, orientazione preferenziale, periodicità, fattori di forma, …);
  • Indagini metrologiche quantitative su immagini SEM calibrate per numerosità, dimensioni (poligoni, aree,…) e classificazione di oggetti comunque definiti;
  • Interpretazione cristallografica approfondita con elaborazione software e ricerca su database PDF

PRESENTAZIONE DEI DATI 

  • Servizio di deposito dei risultati delle analisi sul sistema informativo interno con la possibilità di accesso tramite FTP riservato e controllato.
  • Generazione di rapporto o di una relazione tecnico-scientifica sulla campagna di prove, comprensiva di tutti i dati raccolti (immagini, grafici, tabelle) in formato PDF.

Compilare la request form per prestazioni del Dipartimento di Ingegneria Meccanica e Industriale, Gruppo di ricerca “Scienza e Tecnologia dei Materiali – STM“. 

Added by on 30.12.2008 • Category: industry

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